2^ο Πανελλήνιο Συνέδριο

Το «2^ο Πανελλήνιο Συνέδριο για την Τυποποίηση, τα Πρότυπα και την Ποιότητα» πραγματοποιήθηκε στις 26-27 Μαΐου 2006 στην Πολυτεχνική Σχολή του Αριστοτέλειου Πανεπιστήμιου Θεσσαλονίκης (ΑΠΘ).  Διοργανώθηκε από την «Ένωση Ελλήνων Επιστημόνων για την Προτυποποίηση και την Τυποποίηση» (ΕΝΕΠΡΟΤ) με την ενεργό συμμετοχή του Ελληνικού Ινστιτούτου Μετρολογίας (ΕΙΜ).  Συνδιοργανωτές ήταν η Νομαρχία Θεσσαλονίκης, ο Δήμος Θεσσαλονίκης, το ΑΠΘ, το ΑΤΕΙΘ, το ΤΕΕ/ΤΚΜ, το ΓΕΩΤΕΕ, το ΒΕΘ, και η ΕΤΑΓΡΟ.

Την έναρξη του Συνεδρίου χαιρέτησε θερμά  με επιστολή του ο Υφυπουργός Ανάπτυξης κ. Αναστάσιος Νεράντζης. 

Η επιτυχία του Συνεδρίου ξεπέρασε κατά πολύ τις προσδοκίες των διοργανωτών, με δεδομένα μάλιστα τα μικροπροβλήματα από τις καταλήψεις των φοιτητών. στις συνεδρίες συμμετείχαν 205 εγγεγραμμένοι σύνεδροι από πολλές περιοχές της Ελλάδας και παρουσιάστηκαν 54 εισηγήσεις οι οποίες κάλυψαν  ένα ευρύτατο φάσμα των θεματικών πεδίων στα οποία αφορούσε το Συνέδριο.

Το σημαντικότερο γεγονός του Συνεδρίου ήταν η ευρύτητα του φάσματος γνώσεων, τόσο των ομιλητών, όσο και των συνέδρων.  Τα συμπεράσματα του Συνεδρίου μαζί με τις εισηγήσεις και τις απομαγνητοφωνημένες ερωταπαντήσεις των συνέδρων με τους ομιλητές εκδόθηκαν σε τομο πρακτικών.

ΠΡΟΓΡΑΜΜΑ ΣΥΝΕΔΡΙΟΥ

Α’ ΑΝΑΚΟΙΝΩΣΗ

ΑΦΙΣΑ

Παρουσίαση τόμου πρακτικών